Se amplía la capacidad de enfoque de rayos x
- 20 de November 2007
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- Nahuel
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Categorías:Investigación, Nanotecnología Compartir
Un equipo de investigadores del Laboratorio Nacional de Brookhaven excedió un límite muy importante en la capacidad de enfocar el “ángulo crítico”, demostrando que este puede superarse con los rayos X de alta potencia.
El ángulo crítico es el ángulo límite al que la luz puede desviarse por medio de una superficie única.
Este nuevo método permitirá un enfoque eficiente de los rayos x hasta puntos sumamente pequeños y constituye un descubrimiento importante para el desarrollo de una nueva fuente de luz.
Fuente: electronicafacil.net
