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Gracias a un grupo de científicos-investigadores del Rensselaer Plytechnic Institute de Nueva York, ahora la creación de nanotecnologías más avanzadas entre otras, resultara un menor esfuerzo.

Este grupo ha ideado una nueva técnica de medición con el fin de trazar mapas de los nanomateriales a la vez que estos progresan en su evolución. Para lograr este cometido, expertos han usado una técnica de difracción de electrones de alta energía, la cual tiene la capacidad de generar una especie de patrón en mencionados nanomateriales.

Se han hecho pruebas en las que el patrón que lograron componer solamente contenía información parcial de la superficie a tratar, pero los científicos consiguieron, rotando el sustrato en el que el nanomaterial estaba creciendo, un mejor posicionamiento obteniendo así un diagrama con información completa.

“El sistema delinea el mapa de la superficie de un nanomaterial cuando éste crece. Utilizando una tecnología ya existente, proporciona así una imagen muy clara de cómo perfeccionar y duplicar el crecimiento de un nuevo nanomaterial sin tener que pasar meses tipificando sus estructuras tras dicho crecimiento.”

Aun quedan pasos claves que dar, pero donde dirigentes de este proyecto subrayan que implementando esta nueva técnica se podrá observar como el nanomaterial en cuestión se forma, para luego poder recrear una mejor versión sin necesidad de experimentos costosos y duraderos.

Fuente: Tendencias21